哪个品牌的x射线荧光光谱仪好？
要分波谱还是能谱，台式还是手持，波谱像帕纳科，赛默飞，森沙仪器，能谱像天瑞，理学，这些也都是台式X射线荧光光谱仪，手持的有尼通、日立、森沙仪器等直接粉末法制片-X射线荧光分析法测定多金属结核和富钴结壳中种元素
*** 提要
粉碎后的多金属结核和富钴结壳样品，采用铝盒、塑料环或粉末镶边压片法压制成片。使用波长色散X射线荧光光谱仪测量。采用经验系数法校正元素间的基体效应和吸收增强效应。测定氧化物和元素不少于Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、S、Cl、Fe、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Sr、Ba、Pb、Ce计20种。
本 *** 适用于大洋多金属结核和富钴结壳样品的实验室或船载X射线荧光分析。测定范围为制定工作曲线所用标准物质系列的含量范围，测定范围及检出限见表77.4。
表77.4 *** 测定范围和检出限(wB)
注: *** 的检出限基于RigakuZSXmini型台式波长色散X射线荧光光谱仪，供参考。
仪器设备
波长色散X射线荧光光谱仪。
粉末压片机。
试剂与材料校准物质系列由我国多金属结核标准物质GSPN-1～3(GBW07249、GBW07295～6)，富钴结壳标准物质G *** C-1～3及国家海洋沉积物标准物质G *** S-1～3(GBW07313、GBW07315～6)共9个，以及有较可靠结果的内控样组成。
低压聚乙烯粉末。
压样模具#40mm。
铝盒、塑料环。
校准曲线校准物质系列由多金属结核国家一级标准物质GSPN-1～3(GBW07249、GBW07295～6)，富钴结壳标准物质G *** C-1～3及海洋沉积物国家一级标准物质G *** S-1～3(GBW07313、GBW07315～6)共9个，以及有较可靠结果的内控样组成。
校准曲线采用线性方程，经验系数法校正试样基体效应和吸收增强效应。公式如下:
岩石矿物分析第四分册资源与环境调查分析技术
式中:wi为i元素校正后含量，%;Xi为未校正含量，%;Ii为i元素特征X射线谱线强度;Fj为j元素含量，%;Aij为j元素对i元素基体校正系数;Bij为j元素对i元素重叠校正系数;b、c、k、C为均为常数。
在建立的分析 *** 中设置上述的校准物质，输入其标准值。
准确称取4.000g标准物质装入#40mm铝盒，塑料环或低压聚乙烯粉末镶边，用压样机在40MPa压力下压制成标准样片。然后把校准物质放入仪器，在表77.5的工作参数下测定其X射线荧光强度。对各元素的强度与标准值的对应关系进行回归计算，得到相应的校准曲线系数和基体校正、重叠校正系数，存入仪器的定量分析程序中。
表77.5 结核和结壳参考仪器工作条件
注:表中为RigakuZSXmini型台式波长色散X射线荧光光谱仪工作条件，供使用其他仪器参考。
分析步骤
按标准物质制备 *** 制备试样片(试样为烘干样)。按标准样片同样的条件操作仪器。
进行PHA调节和漂移校正。
将未知试样放入仪器，输入试样名称，测定。由联机计算机和定量分析软件自动输出试样分析结果。 *** 的质量参数见表77.6。
表77.6 结核结壳样品分析的准确度、精密度和不确定度
续表
注: 表中数据为 Rigaku ZSXmini 型台式波长色散 X 射线荧光光谱仪的分析结果统计。
下面分享相关内容的知识扩展：
水会吸收X射线荧光吗
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电子的能级差，即原子特定的电子层间跃迁能量。目录
1分析
2应用
3优点
4展望
编辑本段分析
X射线荧光光谱法---能量色散
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的 *** 。按激发、色散和探测 *** 的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。
根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)。
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。
X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统，结构简单。X射线激发源可用X射线发生器，也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2-3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X射线荧光分析法用于物质成分分析，检出限一般可达10-5-10-6克／克(g／g)，对许多元素可测到10-7-10-9g／g，用质子激发时 ，检出可达10-12g／g；强度测量的再现性好；便于进行无损分析；分析速度快；应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究
编辑本段应用
X射线荧光光谱法--实验校正法
物质成分分析 ①定性和半定量分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操作简便、测定迅速等优点，较适合于作野外和现场分析,而且一般使用便携式X射线荧光分析仪，即可达到目的。如在室内使用X射线能谱仪,则可一次在荧光屏上显示出全谱，对物质的主次成分一目了然，有其独到之处。
② 定量分析可分为两类,即实验校正法（或称标准工作曲线法）和数学校正法。它们都是以分析元素的 X射线荧光（标识线）强度与含量具有一定的定量关系为基础的。70年代以前，数学校正法发展较慢，主要用于一些组成比较简单的物料方面；大量采用的是实验校正法。其中常用的有外标法、内标法、散射线标准法、增量法、质量衰减系数测定法和发射－吸收法等。70年代以后，随着X射线荧光分光谱法分析理论和 *** 的深入发展,以及仪器自动化和计算机化程度的迅速提高，人们普遍采用数学校正法。其中主要包括经验系数法、基本参数法和经验系数与基本参数联用法等。应用这些 *** 于各种不同分析对象，可有效地计算和校正由于基体的吸收和增强效应对分析结果的影响。对于谱线干扰和计数死时间，也可以得到有效的校正。这些 *** 除基本参数法外，一般都比较迅速、方便，而且准确度更高。在许多领域中，无论是少量或常量元素分析，其结果足与经典的化学分析法媲美,因而在常规分析中，X射线荧光分析法和原子吸收光谱法、等离子体光谱分析法一起，并列为仪器分析的主要手段。
编辑本段优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法
首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于进行无损分析等。其次，与原子发射光谱法相比,除轻元素外，特征（标识）X射线光谱基本上不受化学键的影响，定量分析中的基体吸收和增强效应较易校正或克服，谱线简单，互相干扰比较少，且易校正或排除。
X 射线荧光光谱法可用于冶金、地质、化工、机械、石油、建材等工业部门，以及物理、化学、生物、地学、环境科学、考古学等。还可用于测定涂层和金属薄膜的厚度和组成以及动态分析等。
在常规分析和某些特殊分析方面，包括工业上的开环单机控制和闭环联机控制，本法均能发挥重大作用。分析范围包括原子序数Z≥3（锂）的所有元素，常规分析一般用于Z≥9（氟）的元素。分析灵敏度随仪器条件、分析对象和待测元素而异，新型仪器的检出限一般可达10-5～10-6克／克；在比较有利的条件下，对许多元素也可以测到10-7～10-9克/克（或10-7～10-9克／厘米3）,而采用质子激发的 *** ，其灵敏度更高，检出限有时可达10-12克／克（对Z＞15的元素）。至于常量元素的测定，X射线荧光分析法的迅速和准确,是许多其他仪器分析 *** 难与相比的。
随着大功率 X射线管和同步辐射源的应用、各种高分辨率 X射线分光计的出现、计算机在数据处理方面的广泛应用，以及固体物理和量子化学理论计算 *** 的进步,通过X射线光谱的精细结构（包括谱线的位移、宽度和形状的变化等）来研究物质中原子的种类及基的本质、氧化数、配位数、化合价、离子电荷、电负性和化学键等，已经取得了许多其他手段难以取得的重要结构信息，在某些方面(例如配位数的测定等)甚至已经得到非常满意的定量结果。这种研究 *** 具有不破坏样品、本底低、适应范围广、操作简便等优点，不仅适用于晶体物质研究，而且对于无定形固体物质、溶液和非单原子气体也可以发挥其独特的作用，可以解决X 射线衍射法和其他光谱、波谱技术所不能解决的一些重要难题。
编辑本段展望
X射线荧光光谱法
X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动控制分析）,X射线荧光分析法正在不断完善中。某些新发展起来的激发、色散和探测新技术还未能得到普遍的推广应用，仪器的自动化和计算机化水平尚待进一步提高。尤其突出的是,在快速分析方面,至今实验室的制样自动化水平仍然是很低的,还不能适应全自动X射线荧光分析仪连续运转的要求。
在仪器技术的改进方面,对于常规的X射线荧光光谱法来说，为提高分析灵敏度，这种改进主要仍决定于激发、色散和探测等三个基本环节。在激发源方面,常规X射线管对轻元素的激发，除铑靶外，还发现钪靶的效率较高。新型的强大的同步辐射源在分析上的应用研究也已开始，在特征 X射线外延吸收谱精细结构研究中更引起人们的高度重视。在色散元件方面,随着一些新型晶体,尤其是轻、重元素交替淀积的碳化物多层膜质晶体的发展，在提高衍射效率方面对轻元素分析有可能获得较大的效益。对于超长波X射线色散用的各种分析晶体和光栅,在提高分辨率和扩大应用范围方面，不断取得新的进步。在探测器方面，作为能谱仪的心脏，可以在室温下工作，具有优良能量分辨本领的碘化汞晶体探测器也正在开发之中。可以说，以上仪器三个基本环节的突破，以及仪器结构的不断改进（例如能量与波长色散谱仪的结合等），对于提高仪器的使用水平,必将有很大的促进。此外,基本参数法的推广应用，尚有赖于有关方面不断地提高质量衰减系数、吸收陡变、荧光产额和原级 X射线光谱的强度分布等基本参数的准确度。
X射线荧光光谱法---痕量元素测定
在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理 *** 的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，在各应用部门中仍然有着发展的前景。
在化学态研究方面，随着固体电子能谱和量子化学理论的发展和电子计算机在X射线能谱解释中的应用,这种研究正在继续朝着定量计算的方向前进，不仅在晶体物质方面，而且在非晶型物质方面，包括高分子化合物、配位化合物及其他溶液、非单原子气体等，其应用将与日俱增。
ct dr x光机属于几类射线装置吗？
问题一：射线装置如何分类 15分 根据射线装置对人体健康和环境可能造成危害的程度，从高到低将射线装置分为Ⅰ类、Ⅱ类、Ⅲ类。按照使用用途分医用射线装置和非医用射线装置。（一）Ⅰ类为高危险射线装置，事故时可以使短时间受照射人员产生严重放射损伤，甚至死亡,或对环境造成严重影响；
（二）Ⅱ类为中危险射线装置，事故时可以使受照人员产生较严重放射损伤，锭剂量照射甚至导致死亡；
（三）Ⅲ类为低危险射线装置，事故时一般不会造成受照人员的放射损伤。
具体的话可以参考相关防护条例。
问题二：ct dr x光机属于三类射线装置吗 x光机用于工业上一般是探伤检测等，它应属3类射线装置，根据国家规定要办理辐射安全许可证！如果要办的话要去省环保厅！我们公司也是搞这一块的，可以委托代办！贵州丹波尔环境技术有限公司！全国资质认证的！
问题三：医院常见的医用三类射线装置有哪些？ SPECT、ECT、PET／CT、电子直线加速器等
问题四：放射源和射线装置1-5类的具体分类标准是什么？ 国际原子能机构根据放射源对人体可能的伤害程度，将放射源分为5类： Ⅰ类放射源属极危险源。没有防护情况下，接触这类源几分种到1小时就可致人死亡。 Ⅱ类放射源属高危险源。没有防护情况下，接触这类源几小时至几天可以致人死亡。 Ⅲ类放射源属中危险源。没有防护情况下，接触这类源几小时就可对人造成永久性损伤，接触几天至几周也可致人死亡。上述三类放射源为危险放射源。 Ⅳ类放射源属低危险源。基本不会对人造成永久性损伤，但对长时间、近距离接触这些放射源的人可能造成可恢复的临时性损伤。 Ⅴ类放射源属极低危险源。不会对人造成永久性损伤。
问题五：三类X射线装置 CB是几类 这个问题问的好，答案就在题干上
问题六：三类射线装置属于甲乙类医用设备吗 是的，一般的XRF（X射线荧光光谱仪）在窗口都是有保护装置的，按标准的测试方式测试，不要对人体激发，是不会造成伤害的，如果对着人体持续激发15分钟，就相当于去医院做了一次X光。
问题七：射线装置如何分类 15分 根据射线装置对人体健康和环境可能造成危害的程度，从高到低将射线装置分为Ⅰ类、Ⅱ类、Ⅲ类。按照使用用途分医用射线装置和非医用射线装置。
（一）Ⅰ类为高危险射线装置，事故时可以使短时间受照射人员产生严重放射损伤，甚至死亡,或对环境造成严重影响；
（二）Ⅱ类为中危险射线装置，事故时可以使受照人员产生较严重放射损伤，锭剂量照射甚至导致死亡；
（三）Ⅲ类为低危险射线装置，事故时一般不会造成受照人员的放射损伤。
具体的话可以参考相关防护条例。
问题八：医院常见的医用三类射线装置有哪些？ SPECT、ECT、PET／CT、电子直线加速器等
问题九：ct dr x光机属于三类射线装置吗 x光机用于工业上一般是探伤检测等，它应属3类射线装置，根据国家规定要办理辐射安全许可证！如果要办的话要去省环保厅！我们公司也是搞这一块的，可以委托代办！贵州丹波尔环境技术有限公司！全国资质认证的！
问题十：三类X射线装置 CB是几类 这个问题问的好，答案就在题干上
X射线荧光光谱法测定镍精矿中镍、铜、铁、钴、硅、钙、镁和硫
*** 提要
采用低压聚乙烯粉镶边垫底的粉末压片法制样，X射线荧光光谱法对硫化镍精矿样品进行直接测定。用铑靶Ka线的康普顿散射线对Ni和Cu进行内标校正;其余元素以经验系数法校正元素间的影响。
本法适用于硫化镍铜精矿样品中Ni、Cu、Fe、Co、SiO2、CaO、MgO、S等的测定。各元素测定范围与校准曲线覆盖范围相当。
仪器
波长色散X射线荧光光谱仪，端窗铑钯X射线管(功率在3kW以上)。
30t压样机和镶边垫底压样模具。
试剂
低压聚乙烯粉末(工业用)。
校准标准试样选择GBW07233、GBW07268、GBW07283等国家级镍、铜矿石标准物质，和省级、行业级的相关标准物质，以及选取有关标准或化学纯试剂组合人工标准物质，使分析元素组分既覆盖全部的含量范围，又有一定含量梯度，约20个以上为宜。
在上述标准样品中选择1个或多个分析元素含量适当的标样用作仪器漂移校正样。
校准曲线
校准标准试样和仪器漂移校正样的制备称取5.0g(精确至0.001g)标准试样(-200目)，用低压聚乙烯镶边垫底，在压片机上加压20t，保持15s，制成样品直径为Φ32mm，连镶边直径Φ40mm的试样片，保存于干燥器中。
根据分析要求结合仪器性能选定元素分析线，X射线管电压50kW，管电流50mA，通道光阑直径30mm，试样盒面罩Φ30mm，在真空光路中进行测定。测量条件见表43.9。
表43.9 X射线荧光光谱仪分析元素测量条件(以日本理学3080-E1型仪器为例)
注:*RhKαc线的Compton散射线。
根据上述测量条件启动校准标准试样测量，计算各元素分析线净强度(103s-1)。
采用一点法扣除背景，按下式计算分析线净强度Ii:
岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析
式中:IP为分析线谱峰强度，103s-1;IB为分析线背景强度，103s-1。
将校准标准试样中各元素的标准值与元素分析线净强度代入下式进行回归计算，求得各元素的校准、校正系数:
岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析
式中:wi为待测元素的质量分数，%;ai、bi、ci为待测元素i的校准系数;Ii为待测元素i的分析线净强度，103s-1;αij为共存元素j对分析元素i的基体校正系数;Fj为共存元素j的含量(或强度);βik为谱线重叠干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰系数;Fk为谱线重叠干扰元素k的含量(或强度)。
对于Ni、Cu元素采用RhKαc作内标校正基体效应。先计算NiKα与RhKαc的比值，再按上式回归求出Ni的校准、校正系数。
将上述求出的校准、校正系数存入计算机相关分析程序中备用。
测定仪器漂移校正试样，将各元素的分析谱线净强度Ii作为漂移校正基准存入计算机。
分析步骤
按校准标准制备 *** 制备未知试样，装入样品盒，确认无误后放入自动样品交换器，启动相应的分析程序，按建立校准曲线的测量条件测定未知试样。
在建立了校准曲线后，一般的常规分析不再测定校准标准系列，仅需在每次分析时调用存入的校准、校正系数，测定仪器漂移校正试样，求出漂移校正系数，由计算机自动进行强度测量及校正，背景扣除、基体效应的校正，仪器漂移校正，最后打印分析结果。
仪器漂移校正系数的计算见下式:
岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析
式中:αi为仪器漂移校正系数;I1为初次测量仪器漂移校正试样得到的漂移校正基准强度，103s-1;Im为分析试样时测量仪器漂移校正试样测得的净强度，103s-1。
仪器漂移的校正公式为:
岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析
式中:Ii为漂移校正后的分析线强度，103s-1;Ii为未作漂移校正的分析线强度，103s-1;αi为仪器漂移校正系数。
注意事项
1)当Ni含量不高，而Y、Rb有一定含量时，要注意YKα(2)和RbKβ(2)对Ni的谱线重叠干扰，并加以扣除校正，或用F-PC探测器测NiKα，以减少Y、Rb的干扰。
2)CaKα(3)的逃逸峰也会对M *** 生重叠干扰。当Mg含量低，而Ca含量高的样品，要考虑扣除Ca对Mg的干扰。
3)更好根据所用仪器重新核定测量条件和测定下限。
